Quadrupole四級桿二次離子質(zhì)譜儀是一款高性價比且經(jīng)久耐用的產(chǎn)品，它是研究樣品表面化學(xué)成分的理想選擇，適用于研發(fā)和工業(yè)質(zhì)量控制應(yīng)用。

MiniSIMS——屢獲殊榮的臺式二次離子質(zhì)譜儀（SIMS）表面化學(xué)分析系統(tǒng)。
賽恩斯（SAI）公司創(chuàng)新研發(fā)的MiniSIMS儀器榮獲歐洲及美國多項殊榮，其中包括R&D100獎。該臺式設(shè)備對實驗室空間和配套設(shè)施要求極低，卻可全面支持靜態(tài)二次離子質(zhì)譜（Static SIMS）、成像二次離子質(zhì)譜（Imaging SIMS）以及動態(tài)（深度剖面）二次離子質(zhì)譜（Dynamic SIMS）三種工作模式。結(jié)合其高通量分析能力，相較于傳統(tǒng)的超高真空SIMS設(shè)備，單個樣品的檢測成本最高可降低90%。

為何選擇 SIMS ？
與多種空間分辨元素分析技術(shù)（通?；趩蝹€原子的信息采集）不同，二次離子質(zhì)譜（SIMS）不僅適用于無機成分分析，還可有效實現(xiàn)有機物種類的空間分布成像。SIMS 的采樣深度顯著小于大多數(shù)其他表面分析技術(shù)，結(jié)合其優(yōu)異的檢測靈敏度，能夠在較短時間內(nèi)對薄層結(jié)構(gòu)及界面區(qū)域獲取更為精細的化學(xué)信息。此外，SIMS 具備區(qū)分同一元素不同同位素的能力，并可高效檢測和分析鋰、硼等輕元素，展現(xiàn)出獨特而廣泛的應(yīng)用優(yōu)勢。

MiniSIMS 非常適合用于進行表面污染的常規(guī)中期檢查，以便在進行后續(xù)昂貴的加工步驟之前，將有缺陷的物品撤出。
例如，如果要對某個表面進行涂漆或與其他材料粘合，其清潔度對于涂層質(zhì)量或粘合強度至關(guān)重要。在界面和表面研究中，分析不能被底層材料的信號所淹沒，這就要求所用技術(shù)的采樣深度足夠小，以排除這些信號。二次離子質(zhì)譜（SIMS）是所有表面分析技術(shù)中采樣深度最小的技術(shù)之一，因此特別適合分析通常覆蓋在預(yù)期純凈材料表面的極薄污染層。

Quadrupole四級桿二次離子質(zhì)譜儀不僅能夠識別無機和元素污染物，而且與許多其他分析技術(shù)不同，它還能對可能存在的任何有機污染物進行詳細分析。

MiniSIMS Alpha應(yīng)用領(lǐng)域:

表面化學(xué)

黏附力

分層

印刷適性

表面改性

等離子體處理

痕量分析（表面ppm）

催化劑

同位素分析

表面污染